Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная микроскопия. Методы, используемые для контроля и корректировки заряда
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение глубины напыления
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Измерение глубины напыления
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Предлагаемая процедура сертификации оставшихся в рабочем стандартном образце areic доз, производимых имплантацией ионов
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики определения фона
|
Действует |
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение разрешения по плоскости, анализируемой площади и площади образца, наблюдаемой оператором
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Фундаментальные подходы к определению поперечного разрешения и резкости при использовании методов на базе пучка
|
Действует |
На языке оригинала
|
37584,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение характеристик функциональных стеклянных подложек для биосенсорных устройств
|
Действует |
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение скорости напыления: метод сетчатой реплики с применением механического матричного профилометра
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Газовый анализ. Общие аспекты обеспечения качества калибровочных газовых смесей, используемых при пайке. Руководящие указания
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-MS). Введение к использованию
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда. Эксплуатационные методики
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Использование рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF) в биологическом и экологическом анализе
|
Действует |
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Поверхностный химический анализ металлической оксидной пленки посредством спектрометрии оптического излучения с тлеющим разрядом
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Анализ металлоксидных пленок с помощью оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
Страницы: ... / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 |